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                                  9. 基質輔助激光解吸電離飛行時間質譜儀(MALDI-TOF-MS測試)
                                  10. 二次離子飛行時間質譜測試(TOF-SIMS)
                                  11. 檢測項目Science
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                                    瀏覽次數:7 | 2021-05-27 15:25:19 | TAG:
                                    此文關鍵詞:二次離子飛行時間質譜測試

                                    二次離子飛行時間質譜測試(TOF-SIMS)

                                    儀器名稱: 二次離子飛行時間質譜測試(TOF-SIMS) 型號:
                                     
                                     
                                    檢測項目: (1)深度分辨率:幾個納米;
                                    (2)空間分辨率:<一個微米;
                                    (3)質量分辨率:m/m5000
                                    (4)檢測靈敏度:ppmppb;
                                    (5)絕緣層厚度為幾個微米的樣品質譜分析
                                    設備性能:  
                                    應用范圍: (1)樣品組分和雜質元素縱向分布的深度剖析;
                                    (2)樣品組分和雜質元素面分布的一維線掃描分析;
                                    (3)樣品組分和雜質元素面分布的離子圖象;
                                    (4)多層薄膜樣品組分和雜質元素分布及界面情況分析;
                                    (5)厚度為幾個微米絕緣層樣品的深度剖析
                                    制樣要求: 粉末樣品50mg即可,塊狀樣品長寬1cm以內,厚度5mm以內。
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